RUBEN DOMINGUEZ MALDONADO UND ANDRÉS IVÁN OLIVA ARIAS
En los últimos años el avance de la microelectrónica y la nanoelectrónica han ocupado un papel muy importante en el desarrollo de la tecnología. La miniaturización de muchos elementos se debe a la posibilidad de manipularlos a bajas dimensiones y de ahí la necesidad de estudiar las nuevas propiedades físicas que alcanzan los materiales cuando éstos son utilizados en dimensiones muy pequeñas. Se conoce que los metales presentan propiedades diferentes cuando éstos son fabricados con espesores nanométricos y de aquí surge la necesidad de conocer con más detalle acerca de su comportamiento mediante la experimentación y la modelación teórica de estos dispositivos y conocer las posibles aplicaciones de uso. En este trabajo se estudia un sistema película metálica/sustrato (sistema bimaterial). Dicho sistema es calentado por efecto Joule al aplicarle una corriente eléctrica, midiendo el perfil temporal térmico de la película y sustrato en forma simultánea. Los resultados experimentales obtenidos, se comparan con un modelo térmico propuesto. Se discuten los resultados encontrados así como las propiedades térmicas que se pueden obtener a partir de los perfiles térmicos.
